SYSTEMS & DECAPSULATION SOLUTIONS

产品

从设备到工艺,找到适合样品的开封路径。

OUR SYSTEMS

四种能力,匹配不同制样任务。

激光、等离子、机械与组合工艺。

iPlasma Pro
原位开封机(激光等离子开封机)

iPlasma Pro

将激光与常压 MIP 等离子整合于一台设备,实现原位开封。放入样品并启动后,自动完成激光处理、等离子处理、清洗、吹干与拍照;确认产品特性与工艺后保存 Recipe,同类样品即可调用配方,一键开封。

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iPlasma
等离子开封系统

iPlasma

以常压 MIP 微波诱导等离子为核心,提供无酸有机树脂精细去除。衔接激光或机械预处理,逐步显露键合线、薄焊盘及深层互连,为失效分析保留关键结构。

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iLaser
激光开封机

iLaser

同轴视觉辅助定位,在样品图像上画框确定开封范围。设定激光加工条件后,按目标区域分阶段去除塑封材料,实现局部开窗与减薄,并为后续精细开封保留余量。

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iMech Pro
机械开封与精密制样系统

iMech Pro

围绕精密机械制样整合铣削、研磨、抛光与减薄能力,适用于需要控制材料去除路径、局部加工区域及剩余厚度的任务。

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CHOOSE YOUR PROCESS

开封方案

为关键结构,选择合适的开封工艺。

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先明确要观察什么

Die 与键合区

先建立窗口,再逐步精修键合线、焊盘和目标表面周围的材料。

激光等离子方案 →

局部失效区

将电性或图像定位线索与窗口位置关联,保留异常区域的阶段图像。

查看应用案例 →

背面与材料叠层

依据材料层次规划铣削、研磨、抛光与剩余厚度复核。

机械制样方案 →

工艺选择参考

方法主要任务验证重点
激光体材料去除、局部开窗结构位置、热影响、残留及加工余量
MIP 等离子精细去除有机材料材料响应、填料残留、敏感表面
机械制样铣削、研磨、抛光与减薄平整度、载荷、碎屑和厚度控制
组合工艺衔接粗加工与精修转序边界、清洁及阶段复核

样品评估的四个阶段

01 样品与目标

记录封装、尺寸、材料和失效状态,明确待保留结构。

02 路径与边界

确定开封方向、区域、工艺组合与检查节点。

03 加工与观察

记录阶段图像,检查残留与关键结构状态。

04 结果与交付

将结果对照分析目标,明确适用范围和复核方式。

常见技术问题

同一封装外形能否使用同一套参数?

不能仅由外形判断。树脂、填料、线材与表面金属的变化,会影响工艺响应,应以代表性样品确认。

不使用酸液是否等于完全没有制样影响?

不同工艺仍有各自的热、机械或表面影响。应结合结构保留要求及后续分析方式进行验证。

带 underfill / encap 的板级器件如何评估?

需考虑胶材、板面翘曲、邻近器件与焊点。若要保留原焊锡,需独立建立剩余厚度、残留与二次复核的验收方法。

激光与等离子的三阶段协同

01 预开窗与留量

激光去除体材料,接近敏感结构时保留后续处理余量。

02 定位与配方

确认目标区域,设置能量、速度和循环条件,同时定义保护范围。

03 执行与复核

按已确认配方执行,在约定节点检查残留与结构,并记录结果。

按样品挑战查找案例

工艺记录与软件示例 →

LET’S TALK

从一个样品,开始技术确认。

告诉我们封装类型、分析目标与需要保留的结构,一起确定适合的开封路径。

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