CHIP DECAPSULATION / IDECAP

芯片开封。
让失效证据
清晰可见。

从激光预开窗、等离子精修,到精密机械制样。围绕每一种封装结构,找到通往关键区域的路径。

LASER / PLASMA / MECHANICAL
开芯 · 设备影像观看完整影片 ↗
面向关键结构的制样能力
Laser局部开窗
Plasma精细去除
Mechanical机械制样

打开封装,更要保留分析价值。

开芯(IDECAP / ICDECAP LIMITED)专注芯片开封设备与半导体失效分析制样,提供激光开封、常压 MIP 等离子开封、原位激光等离子开封及精密机械研磨方案。根据封装材料与分析目标,控制去除范围,保留关键结构的观察价值。

目标先行

先确认 Die 表面、键合互连、局部失效区或背面结构,再规划开封路径。

分阶段去除

将主体材料去除与关键区域精细开封分开,以阶段检查逐步接近观察目标。

结果可追溯

关联样品、加工条件与观察图像,便于复核、比较和持续优化。

四种能力,组成完整制样路径。

按材料、结构与分析目标选择工艺,也可组合使用。

iPlasma Pro
原位开封机(激光等离子开封机)

iPlasma Pro

将激光与常压 MIP 等离子整合于一台设备,实现原位开封。放入样品并启动后,自动完成激光处理、等离子处理、清洗、吹干与拍照;确认产品特性与工艺后保存 Recipe,同类样品即可调用配方,一键开封。

了解设备
iPlasma
等离子开封系统

iPlasma

以常压 MIP 微波诱导等离子为核心,提供无酸有机树脂精细去除。衔接激光或机械预处理,逐步显露键合线、薄焊盘及深层互连,为失效分析保留关键结构。

了解设备
iLaser
激光开封机

iLaser

同轴视觉辅助定位,在样品图像上画框确定开封范围。设定激光加工条件后,按目标区域分阶段去除塑封材料,实现局部开窗与减薄,并为后续精细开封保留余量。

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iMech Pro
机械开封与精密制样系统

iMech Pro

围绕精密机械制样整合铣削、研磨、抛光与减薄能力,适用于需要控制材料去除路径、局部加工区域及剩余厚度的任务。

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案例

从真实样品出发,了解开封过程、结果复核与工艺选择。

技术文章

小尺寸 MEMS 开封:MIP 保护薄铝 Pad

小尺寸 MEMS 器件的 Pad 表面铝层很薄,普通酸开封可能造成腐蚀和脱落。开芯采用 MIP 等离子开封,以保护薄铝 Pad 和键合连接为重点,为后续失效分析保留可观察、可复核的结构。

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新闻

关注开芯的最新进展,以及展会、研讨会和行业交流。

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先理解样品,再定义工艺。

定义分析目标

确认观察区域、待保留结构与后续分析方式。

评估材料与路径

结合封装、线材、填料和敏感表面选择工艺。

样品验证与复核

记录阶段图像,检查结构与残留,形成可复核的结果。

了解开封方案 →

CLIENTS & GLOBAL DELIVERY

与产业同行,共同向前。

部分客户与合作机构,覆盖科技制造、半导体与科研领域。

20+

累计装机 / 台

设备已投入芯片开封与制样应用。

ISO 9001 · CE

质量与合规

质量管理体系与设备认证。

批量出货

规模化交付

从单台设备到批量出货,支持客户交付需求。

GLOBAL DELIVERY

把精密开封,带到更多现场。

设备已出货至中国、越南、马来西亚与新加坡,具备批量出货与全球交付能力。期待携手更多全球客户与代理商,拓展应用与市场。

已交付国家

中国

China

越南

Vietnam

马来西亚

Malaysia

新加坡

Singapore

LET’S TALK

从一个样品,开始技术确认。

告诉我们封装类型、分析目标与需要保留的结构,一起确定适合的开封路径。

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